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1064 nm 自由空間隔離器(GK-FSI系列)

光隔離器

1064 nm 自由空間隔離器(GK-FSI系列)

自由空間隔離器系列設計用於整合在雷射二極體封裝內,以防止背向反射。高隔離度、低插入損耗和大孔徑特性使其能夠靈活適應不同的二極體雷射封裝要求。

    描述1

    規格

    範圍

    單元

    單級     雙級

    中心波長 (λc)

    奈米

    1064 1064

    峰值隔離

    分貝

    40 52

    分鐘。隔離度,λc±10nm,23℃

    分貝

    30 42

    典型值插入損耗,23℃

    分貝

    1.0 2.1

    最大限度。插入損耗,23℃

    分貝

    1.2 2.3

    通光孔徑

    毫米

    0.9 0.9

    最大限度。光功率(連續波)

    毫瓦

    300 300

    輸入偏振面

    -

    如圖所示 如圖所示

    輸入偏振傾斜角

    程度

    0 或指定 0 或指定

    工作溫度

    0 至 + 50 0 至 + 50

    儲存溫度

    -40 至 +85 -40 至 +85

    可靠性測試規範資訊

     

     

    高溫儲存測試

    +85℃ 500小時

    低溫儲存測試

    -40℃ 500小時

    高溫測試

    +230℃,持續3分鐘

    溫度循環試驗

    40℃至+85℃,速率2℃,極端停留時間20分鐘,500次循環

    振動測試

    赫茲

    10 - 2000 Hz 正弦波,20 g 加速度,3 軸

    衝擊試驗

    -

    每軸 8 次跌落,高度 1.8 米

    封裝尺寸

    1064 nm 自由空間隔離器(GK-FSI系列)